儀器介紹 | LINSEIS導(dǎo)熱系列儀器介紹
01導(dǎo)熱系數(shù)概念
導(dǎo)熱系數(shù)是表征物質(zhì)熱傳導(dǎo)性質(zhì)的物理量，通常用k、λ或κ表示。是判斷導(dǎo)熱材料傳熱性能優(yōu)劣的重要依據(jù)。通常情況下，導(dǎo)熱系數(shù)越高，導(dǎo)熱性能越好。
02 導(dǎo)熱測(cè)試方法
01穩(wěn)態(tài)法
穩(wěn)態(tài)法就是當(dāng)待測(cè)試樣上溫度分布達(dá)到穩(wěn)定后,通過測(cè)量試樣內(nèi)的溫度梯度和穿過試樣的熱流來測(cè)出導(dǎo)熱系數(shù)。
穩(wěn)態(tài)法具有原理清晰、模型簡單、可準(zhǔn)確直接地獲得熱導(dǎo)率絕對(duì)值等優(yōu)點(diǎn)，常見方法有熱流計(jì)法、平板法、防護(hù)熱板法、軸線熱流法等。
穩(wěn)態(tài)法主要用于測(cè)量固體材料，特別是低導(dǎo)熱系數(shù)材料（如保溫材料）的導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試。
02瞬態(tài)法
瞬態(tài)法是當(dāng)被測(cè)試樣整體達(dá)到溫度均勻和恒定后，在試樣加載一個(gè)微小的溫度擾動(dòng)，通過檢測(cè)此溫度擾動(dòng)波形，可以直接計(jì)算出被測(cè)試樣在此恒定溫度下的熱導(dǎo)率。
瞬態(tài)法的特點(diǎn)是測(cè)量時(shí)間短，測(cè)量范圍寬，精確性高，對(duì)環(huán)境要求低，制樣簡單。常見方法有激光閃射法、熱帶法、熱線法、平面熱源法、探針法等。
瞬態(tài)法多用于研究高導(dǎo)熱材料，或在高溫條件下進(jìn)行測(cè)量。
03 Linseis導(dǎo)熱系列設(shè)備
01穩(wěn)態(tài)法
HFM（熱流計(jì)）
TIM-tester（材料熱阻導(dǎo)熱測(cè)試儀）
02瞬態(tài)法
THB（瞬態(tài)熱橋法測(cè)試儀）
LFA（激光導(dǎo)熱儀）
PLH（微米薄膜導(dǎo)熱儀）
TFA（薄膜物性分析儀）
TF-LFA（頻域、時(shí)域熱反射導(dǎo)熱儀）
04導(dǎo)熱儀器簡介
HFM
原理：將樣品放置在一個(gè)冷板和熱板之間，測(cè)量二者之間的熱流。
可以快速、簡單并且準(zhǔn)確的測(cè)量低導(dǎo)熱系數(shù)保溫材料和其他材料的導(dǎo)熱性能。符合ASTM E1530標(biāo)準(zhǔn)。
TIM-tester
能夠測(cè)試各種界面材料（如導(dǎo)熱膠、導(dǎo)熱膏、導(dǎo)熱墊）的熱阻、接觸熱阻和導(dǎo)熱系數(shù)。適用于電子行業(yè)，如電池、電子封裝等。
符合ASTM D5470-17標(biāo)準(zhǔn)。
THB
德國計(jì)量院與LINSEIS公司聯(lián)合研發(fā)，能快速簡便地測(cè)量樣品的熱導(dǎo)率、熱擴(kuò)散率和比熱。
符合ASTM D5334, ASTM D5930標(biāo)準(zhǔn)，有多種傳感器可供選擇，適用于固體、液體、氣體、粉末、糊狀物等的導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試。
LFA
原理：在一定溫度下，由激光源發(fā)射的激光均勻照射在樣品下表面，使樣品均勻加熱，通過紅外檢測(cè)器連續(xù)測(cè)量樣品背表面的溫升過程，得到溫度和時(shí)間的關(guān)系曲線，從而計(jì)算樣品的熱擴(kuò)散系數(shù)。
符合ASTM E1461， ASTM E2585，ASTM C714等標(biāo)準(zhǔn)。
PLH
原理：采用調(diào)制激光照射樣品，使樣品表面獲得周期加熱源。熱量被樣品吸收后傳遞到樣品背面，紅外檢測(cè)器采集樣品背表面溫度變化反饋到信號(hào)放大器，通過連續(xù)調(diào)整激光頻率，檢測(cè)溫度的相位和幅值變化，從而分析計(jì)算相位和幅值變化關(guān)系來確定樣品熱擴(kuò)散系數(shù)。
適用10-500μm厚度樣品測(cè)試，解決薄膜樣品測(cè)試難點(diǎn)。
TFA
將薄膜樣品沉積到預(yù)制芯片上，可以同時(shí)測(cè)量nm-um薄膜樣品面內(nèi)方向的導(dǎo)熱系數(shù)、電導(dǎo)率、賽貝克系數(shù)、霍爾系數(shù)等參數(shù)。
TF-LFA
分析模型：TDTR(時(shí)域熱反射）技術(shù)通常建立雙溫度模型，從實(shí)驗(yàn)測(cè)量的反射率中提取出溫度變化量，從而計(jì)算得到樣品的熱導(dǎo)率。FDTR(頻域熱反射）通過調(diào)制加熱材料的泵浦光頻率、分析反射探測(cè)光的熱信號(hào)，可以實(shí)現(xiàn)微納尺度下材料的快速、非接觸、無損測(cè)量。
TF-LFA主要測(cè)量nm-um薄膜材料的面間（厚度方向）導(dǎo)熱系數(shù)。